Microespectroscopía de infrarrojo con transformada de Fourier (FTIRM) como herramienta para el estudio de materiales Siderúrgicos Venezolanos
Castillo G., Jennifer N. y Mujalli, Gisela.
(sirit9, sirmug) @sidor.com
IIMM, SIDOR C.A
La microespectroscopía de infrarrojo con transformada de Fourier (FTIRM) es una técnica que ha cobrado auge en el ámbito de materiales. Ésta es el resultado de la unión de la espectroscopia de infrarrojo (FTIR) con la microscopia óptica. SIDOR C.A en su constante desarrollo dispone de esta técnica que permite analizar muestras muy finas o películas delgadas (<50 µm) que facilitan y amplian su uso, como se ilustra en la Figura 1.
La imagen óptica generada por el equipo permite delimitar un área de la muestra de estudio y se usa la radiación infrarroja para detectar los movimientos vibracionales de los grupos moleculares presentes en la misma. En el Instituto de Investigaciones Metalúrgicas y de Materiales, IIMM de SIDOR C.A se desarrollan con esta técnica nuevos protocolos de ensayo mediante el uso del accesorio ATR mapping, útil para la identificación de compuestos en una matriz compleja en la que los espectros individuales pueden limitar las caracterizaciones debido a la superposición de bandas. Esta función permite el mapeo multipunto automatizado, el mapeo de líneas y el análisis por imágenes IR de un área microscópica con una etapa de muestreo manual y un detector de elemento único. El sistema de microscópio escanea automáticamente los puntos o el área especificados, recopilando rápidamente un espectro completo de cada punto sin mover la muestra.
Se ha demostrado el aporte brindado por la técnica FTIRM en la identificación de la estructura química en los defectos superficiales en productos planos laminados en frío y revestidos, tales como manchas por emulsión, óxidos por humedad, minidesgarre, mancha blanquecina y punto marrón, profundizando en su conformación y causa raíz.[1] En la Figura 2, se ilustra la aplicación de la herramienta ATR mapping en el análisis de defectos superficiales de manchas blanquecinas en material Hoja Cromada donde se identifica la presencia de enlaces carbono-hidrógeno (C-H), asociados a trazas de hidrocarburos remanente y contaminantes salinos provenientes de una solución contaminada.
Actualmente, se hace uso de la Microespectroscopía de infrarrojo con transformada de Fourier (FTIRM) para la caracterización de la Hoja Estañada asociada a un Proyecto de Investigación en el que se está estudiando el comportamiento de la capa de pasivación en el tiempo de gran importancia en la industria siderúrgica.
Referencia:
[1] Danglad J., Mujalli G. Mauco S., Villamizar M. Espectroscopia infrarroja por transformada de Fourier en el estudio de defectos superficiales de productos laminados en frío. Informe Técnico IM-5B-14. SIDOR, C.A., Puerto Ordaz, Venezuela.
Figura 1. Microespectroscopio de infrarrojo modelo Hyperion 2000.
Figura 2. Espectroscopía y mapas espectrales químicos de la superficie afectada por mancha blanquecina en material de hoja cromada.
